威斯尼斯人(wns579-Vip认证)中国&官方網站-Green App Store

方案概述

光学测试技术 | 探针台

探针台威斯尼斯人wns579的探针台用于6~12英寸晶圆CP测试。设备采用高精度微米级运动平台、自主开发多光路高低倍率对位系统以及自研算法,先进的总线式运动控制架构,高算力的数据处理和系统控制软件,实现晶圆测试针卡和晶圆PAD的精确对准和压力接触、与测试机进行高速通信反馈、输出格式化Wafer Mapping文件等功能。

方案特点

光学主动对准技术 | AA


核心技术

● 全闭环直线电机运动平台,实现100nm分辨率的位置控制

● 独特的控制算法提供出色的速度平滑和亚纳米级静止抖动性能

● 自研的系统精度补偿模型算法,可以将机械运动的误差和温度变化的影响降到最低

主要特点

● 采用高速直驱平台实现高速运动,大大提高生产效率

● 高刚性的z轴机构可以承载50KG探针力,保证各探针点接触一致

● 开放的针卡和测试接口,可对接各种测试机及测试要求,并按客户要求输出Map文件

● 具备识别Wafer ID、检测Wafer厚度、产品打点等扩展功能

 可搭载各种卡盘实现高低温、大功率、薄Wafer的测试要求

 搭载自动上下料系统,兼容Cassette、Foup类型,支持料盒每层物料的有无、叠片、错层检测

应用领域

 半导体封测