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产品概述

纳米级晶圆检测设备

纳米级晶圆检测设备主要用于晶圆的缺陷检测

产品详情

技术参数:

全自动测试系统,自动上下料

高精度运动模组

缺陷检测类型:元器件缺失、破损、污染、错焊等

 

产品应用:

半导体大型PCB缺陷检测工艺

适合量产