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本产品主要用于nm级精度3D微结构测量领域。设备基于白光干涉术原理,对干涉包络快速高精度解析虚拟探针与工件相交的精准位置,精准测量工件表面形貌。
技术参数:
全自动测量系统
设备具无损非接触、定位精度高、适应工业快速测量
产品应用:
微纳材料、精密光学面型、半导体工业等产品测试工艺
适合研发、实验室验证等